渦流測厚儀 絕緣性覆蓋層測厚儀 陽極氧化膜測厚儀
簡要描述:渦流測厚儀 絕緣性覆蓋層測厚儀 陽極氧化膜測厚儀儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
產(chǎn)品型號: BXS10-ED400
所屬分類:測厚儀
更新時間:2024-08-17
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
渦流測厚儀 絕緣性覆蓋層測厚儀 陽極氧化膜測厚儀
型號:BXS10-ED400
ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型,儀器性能顯著提高。
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
渦流測厚儀 絕緣性覆蓋層測厚儀 陽極氧化膜測厚儀 儀器特點
ED400型渦流測厚儀與ED300型相比,具有如下特點:
*量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達到0~500μm。
*精度高 測量精度達到2%。
*分辨率高 分辨率達到0.1μm。
*校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點,即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。
*基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量誤差不大于1~2μm。
*可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
*穩(wěn)定性提高 采用的溫度補償技術(shù),測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
*探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計,探頭芯壽命可大大延長。
*探頭可互換 外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
技術(shù)參數(shù):
測量范圍: 0~500μm
測量精度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分辨率: 0~50μm:0.1μm;
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 280g
標準配置 主機 |
可選附件 備用探頭 |